一种高光谱图像非均匀性校正方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201911124467.6
申请日
2019-11-18
公开(公告)号
CN111076815B
公开(公告)日
2020-04-28
发明(设计)人
张长兴 王跃明 张东 何道刚 王建宇
申请人
申请人地址
200083 上海市虹口区玉田路500号
IPC主分类号
G01J328
IPC分类号
G01J302
代理机构
上海沪慧律师事务所 31311
代理人
郭英
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
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[3]   一种推扫式热红外高光谱遥感图像非均匀性校正方法 [P]. 
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[4]   一种量子点微型光谱仪非均匀性校正方法 [P]. 
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[5]   一种红外图像非均匀性校正方法 [P]. 
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[6]   一种红外图像非均匀性校正方法 [P]. 
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[9]   一种实时自调节的高光谱图像数据非均匀校正方法 [P]. 
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