光学元件检测方法和装置、电子设备、可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810404506.7
申请日
2018-04-28
公开(公告)号
CN108760245A
公开(公告)日
2018-11-06
发明(设计)人
谭国辉 周海涛 谭筱
申请人
申请人地址
523860 广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
方高明
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]   光学元件检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
谭国辉 ;
白剑 ;
田志华 .
中国专利 :CN108600740B ,2018-09-28
[2]   光学元件检测方法和装置、电子设备、存储介质 [P]. 
谭国辉 ;
白剑 ;
田志华 .
中国专利 :CN108716983A ,2018-10-30
[3]   光学元件检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
谭国辉 ;
白剑 ;
田志华 .
中国专利 :CN108716982A ,2018-10-30
[4]   目标检测方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
翟佳 ;
周嘉明 ;
陈峰 ;
董毅 ;
王锐 ;
贾雨生 ;
谢晓丹 .
中国专利 :CN110852261B ,2020-02-28
[5]   异常图片检测方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
李贤 ;
张义猛 .
中国专利 :CN119832268A ,2025-04-15
[6]   用于光学元件的检测方法、系统、电子设备和存储介质 [P]. 
张任杰 .
中国专利 :CN118482896A ,2024-08-13
[7]   火焰检测方法、火焰检测装置、电子设备和存储介质 [P]. 
陈安宝 ;
操勇 .
中国专利 :CN119479182A ,2025-02-18
[8]   活体检测方法和装置、电子设备和计算机可读存储介质 [P]. 
张瑞 ;
吴立威 ;
郭晓阳 .
中国专利 :CN111368601A ,2020-07-03
[9]   风险检测方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
车成富 .
中国专利 :CN117765315A ,2024-03-26
[10]   目标检测方法、装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
谢文珍 ;
周佳 ;
包英泽 .
中国专利 :CN112052746B ,2024-11-15