一种基于sigma滤波器的红外焦平面非均匀性校正方法

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专利类型
发明
申请号
CN201210454281.9
申请日
2012-11-13
公开(公告)号
CN102968765A
公开(公告)日
2013-03-13
发明(设计)人
桑红石 梁巢兵 高伟 张静 王文 李利荣 赵慧 谢连波
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
IPC主分类号
G06T500
IPC分类号
G01J500
代理机构
华中科技大学专利中心 42201
代理人
朱仁玲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]   一种红外焦平面非均匀性校正方法 [P]. 
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[2]   短波红外焦平面非均匀性的校正方法及装置 [P]. 
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[3]   一种线性与非线性滤波器相结合的非均匀性校正方法 [P]. 
桑红石 ;
梁巢兵 ;
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谢连波 .
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[6]   基于Wiener滤波理论的非制冷红外焦平面非均匀校正算法 [P]. 
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