测试环境的监测方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0

申请号：

CN202210760222.8

申请日：

2022-06-30

公开(公告)号：

CN115048311A

公开(公告)日：

2022-09-13

发明(设计)人：

王燕燕

申请人：

申请人地址：

200333 上海市普陀区真北路788号507室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448

代理人：

宋然然

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-13	公开	公开
2022-09-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220630

共 50 条

[1] 设备测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张利 ;

李丹丹 ;

万诚 .

中国专利 :CN117491780A ,2024-02-02

[2] 网络环境测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

梅予之 ;

张久明 ;

马鹏霄 .

中国专利 :CN118524403A ,2024-08-20

[3] 堆栈监测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

任东亮 ;

黄伟 ;

陈永杰 ;

陈航 ;

刘佳信 .

中国专利 :CN118312949A ,2024-07-09

[4] 测试环境的构建方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

郑海青 ;

孙才婵 ;

张仁辉 .

中国专利 :CN114791884A ,2022-07-26

[5] 堆栈监测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

任东亮 ;

黄伟 ;

陈永杰 ;

陈航 ;

刘佳信 .

中国专利 :CN118312949B ,2024-08-30

[6] 车灯的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

黄志伟 ;

张东辉 ;

苏星溢 .

中国专利 :CN118168778A ,2024-06-11

[7] 测试环境构建方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

丁伟 ;

刘金泉 ;

闵一迪 ;

吕继朋 ;

王焕强 .

中国专利 :CN115422044A ,2022-12-02

[8] DRAM测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

雷泰 .

中国专利 :CN112802532A ,2021-05-14

[9] 接口测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张翔 .

中国专利 :CN114996151A ,2022-09-02

[10] 页面测试方法、装置、可读存储介质及电子设备 [P].

臧展 .

中国专利 :CN111522749A ,2020-08-11

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