基于超声波的半导体芯片缺陷检测系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921685912.1

申请日：

2019-10-10

公开(公告)号：

CN211652689U

公开(公告)日：

2020-10-09

发明(设计)人：

朱汪龙朱玲

申请人：

申请人地址：

214000 江苏省无锡市新吴区景贤路52号

IPC主分类号：

G01N2904

IPC分类号：

G01N2914 G01N2922 G01N2927

代理机构：

南京经纬专利商标代理有限公司 32200

代理人：

楼高潮

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-09	授权	授权

共 50 条

[1] 基于超声波的半导体芯片缺陷检测方法 [P].

胥亚军 ;

夏泳 .

中国专利 :CN119666982A ,2025-03-21

[2] 超声波检测系统 [P].

黄文德 ;

彭炎华 ;

邓加亮 ;

唐秋惠 ;

欧燕章 ;

赵成铭 .

中国专利 :CN211785336U ,2020-10-27

[3] 半导体芯片的缺陷检测装置 [P].

朱汪龙 ;

朱玲 .

中国专利 :CN210834704U ,2020-06-23

[4] 超声波检测装置和车轮在线检测系统 [P].

薛埃生 ;

杨巨平 ;

黄永巍 ;

石兴 ;

任明照 ;

高东海 ;

郭犇 .

中国专利 :CN202994488U ,2013-06-12

[5] 超声波探头的安装支架及缺陷检测系统 [P].

王楠 ;

曹成磊 ;

陶生金 ;

包全 ;

孙景明 ;

王小庄 .

中国专利 :CN220381060U ,2024-01-23

[6] 超声波检测装置 [P].

陈子红 ;

张贤 .

中国专利 :CN215909883U ,2022-02-25

[7] 超声波检测装置 [P].

赵长兴 ;

张国强 ;

王乃波 ;

张锐 ;

朱琳 .

中国专利 :CN203745423U ,2014-07-30

[8] 超声波检测装置 [P].

郑灿森 ;

郑晓方 ;

张淑怡 ;

曾宪星 .

中国专利 :CN215678221U ,2022-01-28

[9] 半导体超声波扫描设备 [P].

姜开飞 ;

黄宛明 ;

魏冬 ;

朱立海 .

中国专利 :CN216696166U ,2022-06-07

[10] 超声波换能器、超声波探头以及超声波检测装置 [P].

周丹 ;

陈露露 ;

罗华 ;

刘建华 ;

欧阳波 ;

莫建华 .

中国专利 :CN112638264B ,2024-05-17

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