芯片测试验证方法、计算机装置及计算机可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010163486.6

申请日：

2020-03-10

公开(公告)号：

CN111400116A

公开(公告)日：

2020-07-10

发明(设计)人：

唐禹谱邹文欢钟午匡双鸽

申请人：

申请人地址：

519080 广东省珠海市高新区唐家湾镇科技二路9号

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

G01R313183

代理机构：

珠海智专专利商标代理有限公司 44262

代理人：

林永协

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-10	公开	公开
2020-08-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20200310

共 50 条

[1] 芯片测试方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

张冉 ;

王健 ;

欧纲 ;

孔晓琳 ;

邓海军 ;

何萌 ;

李安平 .

中国专利 :CN112506724A ,2021-03-16

[2] 芯片测试方法、装置、芯片及计算机可读存储介质 [P].

欧阳可青 ;

彭敏强 ;

周国华 ;

潘飞龙 ;

陈雷 .

中国专利 :CN117783809A ,2024-03-29

[3] 软件测试方法、装置、计算机装置及计算机可读存储介质 [P].

席杨 .

中国专利 :CN109901995A ,2019-06-18

[4] 芯片验证方法、装置及计算机可读存储介质 [P].

周昂 ;

高峰 ;

张凡 ;

李孟 .

中国专利 :CN113485882A ,2021-10-08

[5] 入群验证方法、装置、计算机装置及计算机可读存储介质 [P].

陈樾 .

中国专利 :CN108234471A ,2018-06-29

[6] 测试信息分类方法、计算机装置及计算机可读存储介质 [P].

张德波 .

中国专利 :CN111191863A ,2020-05-22

[7] 空调应力测试方法、计算机装置、计算机可读存储介质 [P].

赫晓龙 ;

李斌 ;

唐伟新 .

中国专利 :CN108006925A ,2018-05-08

[8] 程序测试方法及装置、计算机装置、计算机可读介质 [P].

郑如刚 .

中国专利 :CN111522730A ,2020-08-11

[9] 程序测试方法及装置、计算机装置、计算机可读介质 [P].

郑如刚 .

中国专利 :CN111522730B ,2024-03-29

[10] 验证方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

王婷婷 .

中国专利 :CN119806996A ,2025-04-11

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