一种表面粗糙度测量装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201821922495.3
申请日
2018-11-21
公开(公告)号
CN208887611U
公开(公告)日
2019-05-21
发明(设计)人
徐燕华 沈思情 张俊宝 陈猛
申请人
申请人地址
201617 上海市松江区石湖荡镇闵塔路808号3号厂房
IPC主分类号
G01B2130
IPC分类号
代理机构
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
胡彬
法律状态
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码
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共 50 条
[1]   一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置 [P]. 
程臻君 ;
陈弘毅 ;
张欢 ;
王冉 .
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[2]   一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置 [P]. 
温树彬 ;
郑锦标 ;
张振 ;
陈建立 ;
孙东辰 ;
陈冬梅 .
中国专利 :CN209485249U ,2019-10-11
[3]   一种表面粗糙度测量装置 [P]. 
潘晓彬 ;
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[4]   一种设备表面粗糙度测量装置 [P]. 
莫东威 .
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[5]   一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置 [P]. 
温树彬 ;
郑锦标 ;
张振 ;
陈建立 ;
孙东辰 ;
陈冬梅 .
中国专利 :CN109668501A ,2019-04-23
[6]   一种表面粗糙度测量装置 [P]. 
李若兵 ;
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[7]   一种表面粗糙度测量装置 [P]. 
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[8]   一种表面粗糙度测量装置 [P]. 
潘晓彬 ;
何峰 ;
沈至淼 .
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[9]   一种表面粗糙度测量装置 [P]. 
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[10]   一种表面粗糙度测量装置 [P]. 
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