一种集成电路安全检测系统

被引：0

申请号：

CN202210163824.5

申请日：

2022-02-22

公开(公告)号：

CN114509979A

公开(公告)日：

2022-05-17

发明(设计)人：

龚关飞李莹陈岚

申请人：

申请人地址：

100029 北京市朝阳区北土城西路3号中国科学院微电子研究所

IPC主分类号：

G05B19042

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

柳虹

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-17	公开	公开
2022-06-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G05B 19/042 申请日:20220222

共 50 条

[1] 一种集成电路安全检测系统 [P].

龚关飞 ;

李莹 ;

陈岚 .

中国专利 :CN114509979B ,2024-12-31

[2] 集成电路温度检测系统 [P].

郑其木 ;

谢征君 .

中国专利 :CN212988603U ,2021-04-16

[3] 集成电路安全性评估与检测方法 [P].

赵毅强 ;

解啸天 ;

刘燕江 ;

高翔 .

中国专利 :CN107656839A ,2018-02-02

[4] 集成电路以及确保集成电路安全的方法 [P].

尤佛·科斯纳尔 ;

塔米尔·葛兰 ;

日弗·赫诗曼 .

中国专利 :CN120408594A ,2025-08-01

[5] 一种集成电路功能安全检测装置 [P].

王伟 .

中国专利 :CN214668697U ,2021-11-09

[6] 一种集成电路测试系统加载板检测系统 [P].

杨晶晶 .

中国专利 :CN111208462A ,2020-05-29

[7] 一种集成电路高温闩锁效应检测系统 [P].

马啟田 ;

张玉 ;

吕珍旗 .

中国专利 :CN115389905B ,2025-09-02

[8] 一种集成电路高温闩锁效应检测系统 [P].

马啟田 ;

张玉 ;

吕珍旗 .

中国专利 :CN115389905A ,2022-11-25

[9] 一种集成电路板加工检测系统 [P].

胡勇 ;

刘胜峰 .

中国专利 :CN114779053A ,2022-07-22

[10] 一种集成电路动态闩锁效应检测系统 [P].

黄东巍 ;

麻力 ;

蔡依林 ;

任翔 ;

王宝友 .

中国专利 :CN208334572U ,2019-01-04

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