一种自动分析装置及自动分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710222206.2

申请日：

2017-04-06

公开(公告)号：

CN107064529A

公开(公告)日：

2017-08-18

发明(设计)人：

刘炯峯温维娟王新

申请人：

申请人地址：

215153 江苏省苏州市高新区嘉陵江路405号

IPC主分类号：

G01N3502

IPC分类号：

G01N3510

代理机构：

广州市红荔专利代理有限公司 44214

代理人：

关家强;吴伟文

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-08-18	公开	公开
2017-09-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101747181785 IPC(主分类):G01N 35/02 专利申请号:2017102222062 申请日:20170406
2020-01-24	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 35/02 申请公布日:20170818

共 50 条

[1] 一种自动分析装置 [P].

刘炯峯 ;

温维娟 ;

王新 .

中国专利 :CN207408420U ,2018-05-25

[2] 自动分析装置及自动分析方法 [P].

伊藤匠 ;

东信二 ;

深谷昌史 .

中国专利 :CN110036296A ,2019-07-19

[3] 自动分析装置及自动分析方法 [P].

约翰·李 .

中国专利 :CN104345158A ,2015-02-11

[4] 自动分析装置、自动分析方法 [P].

藤田明直 ;

森高通 ;

野岛彰纮 .

日本专利 :CN120539432A ,2025-08-26

[5] 自动分析装置、自动分析系统和自动分析方法 [P].

稻边利幸 ;

牧野彰久 ;

足立作一郎 ;

薮谷千枝 .

中国专利 :CN107923853A ,2018-04-17

[6] 自动分析装置及自动分析方法 [P].

小松英展 ;

神原克宏 ;

川原铁士 ;

和田健太郎 .

中国专利 :CN102292645A ,2011-12-21

[7] 自动分析装置及自动分析方法 [P].

田村太久夫 ;

芝正树 ;

足立作一郎 .

中国专利 :CN103003684A ,2013-03-27

[8] 自动分析装置及自动分析方法 [P].

山内晶登 ;

森高通 ;

高桥健一 .

日本专利 :CN117677852A ,2024-03-08

[9] 自动分析装置及自动分析方法 [P].

风间佑斗 ;

饭岛昌彦 ;

足立作一郎 .

中国专利 :CN113281284A ,2021-08-20

[10] 自动分析装置及自动分析方法 [P].

黄泳 ;

王晶 .

中国专利 :CN115684619A ,2023-02-03

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