ZUR DEFOKUSSIERUNGSABHANGIGKEIT DES PHASENKONTRASTES BEI DER ELEKTRONENMIKROSKOPISCHEN ABBILDUNG

被引：271

作者：

THON, F

机构：

来源：

ZEITSCHRIFT FUR NATURFORSCHUNG PART A-ASTROPHYSIK PHYSIK UND PHYSIKALISCHE CHEMIE | 1966年 / A 21卷 / 04期

关键词：

D O I：

10.1515/zna-1966-0417

中图分类号：

O64 [物理化学（理论化学）、化学物理学];

学科分类号：

070304 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：476 / &

相关论文

共 8 条

[1]

HANSZEN KJ, IN PRESS

[2]

HANSZEN KJ, 1964, Z ANGEW PHYS, V16, P477

[3]

LENZ F, 1965, OPTIK, V22, P270

[4]

LENZ F, 1958, Z NATURFORSCHG, VA 13, P226

[5] THE THEORETICAL RESOLUTION LIMIT OF THE ELECTRON MICROSCOPE [J].

SCHERZER, O .

[6]

SJOSTRAND FS, 1957, ELECTRON MICROSCO ED, P60

[7]

THON F, 1965, Z NATURFORSCH, VA 20, P154

[8]

VONBORRIES B, 1957, ELECTRON MICROSCOPY, P60