AN ULTRALOW BACKGROUND GERMANIUM GAMMA-RAY SPECTROMETER USING SUPERCLEAN MATERIALS AND COSMIC-RAY ANTICOINCIDENCE

被引：24

作者：

REEVES, JH ^{[1
]}

HENSLEY, WK ^{[1
]}

BRODZINSKI, RL ^{[1
]}

RYGE, P ^{[1
]}

机构：

[1] PRINCETON GAMMA TECH INC, PRINCETON, NJ 08540 USA

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1984.4333349

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：697 / 700

页数：4

共 9 条

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