电子装备通用自动测试系统发展及其关键技术

被引：17

作者：

赵强 ^{[1
]}

刘松风 ^{[2
]}

程鹏 ^{[3
]}

机构：

[1] 海军工程大学电子工程学院

[2] 海军装备技术研究所

[3] 海军工程大学现代教育技术中心

来源：

电子设计工程 | 2011年 / 19卷 / 09期

关键词：

通用自动测试系统; 架构层; 语法层; 语义层;

D O I：

10.14022/j.cnki.dzsjgc.2011.09.053

中图分类号：

TP274 [数据处理、数据处理系统];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 080402 ; 081002 ; 0835 ;

摘要：

随着现代电子测试技术、微电子技术、计算机技术的发展,自动测试系统也随着复杂电子装备的需求而不断发展,通用自动测试系统是自动测试系统今后发展的必然方向。简要介绍了自动测试系统的发展概况,通过对通用自动测试系统特点的分析,提出了"架构层"、"语法层"和"语义层"通用自动测试系统的概念,并讨论了涉及下一代通用自动测试系统的关键技术及应用方向,为通用自动测试系统的研究指明了方向。

引用

页码：160 / 162+169 +169

页数：4

共 5 条

[1] 电子装备自动测试系统发展综述 [J].