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面板数据双因素误差回归模型序列相关和随机效应的联合LM检验
被引:3
作者
:
论文数:
引用数:
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机构:
白仲林
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
郭小力
论文数:
引用数:
h-index:
机构:
霍建新
机构
:
[1]
天津财经大学统计系
来源
:
统计与信息论坛
|
2010年
/ 25卷
/ 04期
关键词
:
双因素误差面板数据模型;
随机效应;
序列相关;
联合LM检验;
D O I
:
暂无
中图分类号
:
C81 [统计方法];
学科分类号
:
020208 ;
0714 ;
摘要
:
对面板数据双因素误差回归模型构造了检验序列相关和随机效应的一种联合LM检验,发现该LM统计量也是检验联合假设H0:σ2μ=λ=0的Baltagi-Li LM统计量和检验假设H0:σ2v=0的Breusch-Pagan LM统计量之和。当面板数据的个体数N充分大时,该联合LM统计量的渐近分布是χ2(3)分布;无论双因素误差面板数据回归模型的剩余误差项是AR(1)过程还是MA(1)过程,联合LM检验是相同的,即对随机效应和一阶序列相关的联合LM检验是独立于序列相关的形式。
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[1]
Tests for the error component model in the presence of local misspecification
[J].
Bera, AK
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Univ Illinois, Dept Econ, Champaign, IL 61820 USA
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Univ Illinois, Dept Econ, Champaign, IL 61820 USA
Yoon, M
.
JOURNAL OF ECONOMETRICS,
2001,
101
(01)
:1
-23
[2]
TESTING AR(1) AGAINST MA(1) DISTURBANCES IN AN ERROR COMPONENT MODEL
[J].
BALTAGI, BH
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UNIV GUELPH,DEPT ECON,GUELPH,ON N1G 2W1,CANADA
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BALTAGI, BH
;
LI, Q
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LI, Q
.
JOURNAL OF ECONOMETRICS,
1995,
68
(01)
:133
-151
[3]
面板数据的计量经济分析.[M].白仲林; 著.南开大学出版社.2008,
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共 3 条
[1]
Tests for the error component model in the presence of local misspecification
[J].
Bera, AK
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Univ Illinois, Dept Econ, Champaign, IL 61820 USA
Bera, AK
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JOURNAL OF ECONOMETRICS,
2001,
101
(01)
:1
-23
[2]
TESTING AR(1) AGAINST MA(1) DISTURBANCES IN AN ERROR COMPONENT MODEL
[J].
BALTAGI, BH
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UNIV GUELPH,DEPT ECON,GUELPH,ON N1G 2W1,CANADA
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;
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LI, Q
.
JOURNAL OF ECONOMETRICS,
1995,
68
(01)
:133
-151
[3]
面板数据的计量经济分析.[M].白仲林; 著.南开大学出版社.2008,
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