绝缘子污秽闪络的统计特性及风险评估

污秽绝缘子的泄漏电流是表征绝缘子表面状态的重要动态参数。污秽绝缘子泄漏电流特性以及基于泄漏电流特征量的污秽度预测、闪络风险评估一直是国内外相关领域学者研究的热点,但泄漏电流的统计特性和闪络风险的定量计算的研究很少。为此,在人工搭建的雾室内,对XP-160和LD-120绝缘子进行大量人工污秽试验,以泄漏电流幅值Im和闪络电压Uf为参量统计大量试验数据对污秽绝缘子的闪络风险做综合评估。结果表明:两种绝缘子泄漏电流幅值Im的概率分布类似正态分布,闪络电压值Uf的概率分布同样类似正态分布。最终综合了泄漏电流幅值Im和闪络电压值Uf对绝缘子污闪的影响,计算出线路绝缘子串污闪风险概率。