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基于专利分析的RFID技术预测和专利战略研究——从技术生命周期角度
被引:72
作者:
赵莉晓
机构:
[1] 中国科学院科技政策与管理科学研究所
来源:
基金:
国家软科学研究计划;
关键词:
RFID技术;
技术生命周期;
Logistic模型;
专利分析;
技术预测;
D O I:
暂无
中图分类号:
G306 [专利研究];
学科分类号:
1201 ;
1204 ;
摘要:
以专利分析为手段,应用技术生命周期理论和Logistic模型,借助于美国专利商标局数据库的专利数据,针对RFID技术开展技术预测研究,结果表明:全球RFID技术领域经过了漫长的萌芽期,目前处于成长期,产业技术发展迅猛,并依据产业技术生命周期阶段和国内外专利实力对比,做出了基本的判断和结论,提出了我国RFID技术"三步走"的专利策略。
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