X射线衍射法研究炭吸附剂的微晶结构

本文介绍应用x射线衍射方法,确定了四种炭吸附剂的微晶结构,并测定和计算了它们的微晶高度、微晶直径、碳层间距、石墨化度、有序叠合几率。相邻碳层之间的均方位移、晶胞常数、晶胞体积等微晶结构参数。结果表明,炭吸附剂的吸附性能与微晶结构之间存在着内在联系。