染污绝缘子串直流污闪放电的电路模型

被引:8
作者
张志劲
蒋兴良
孙才新
胡建林
苑吉河
机构
[1] 输配电装备及系统安全与新技术国家重点实验室(重庆大学)
基金
国家自然科学基金重大研究计划;
关键词
高压直流输电; 绝缘子串; 放电过程; 污闪机理; 电路模型;
D O I
10.13334/j.0258-8013.pcsee.2009.13.012
中图分类号
TM216 [绝缘子和套管]; TM83 [高电压试验设备及测量技术];
学科分类号
0805 ; 080502 ; 080801 ; 080803 ;
摘要
绝缘子污秽闪络事故严重威胁电力系统的安全可靠运行,目前国内外对污闪机理的研究主要以平板模型为基础。以7片串XP–160绝缘子为例,开展染污绝缘子串直流污闪电路模型的研究。根据高速摄像机拍摄的结果得知,染污绝缘子串直流污闪放电过程中局部电弧存在飘弧现象,即局部电弧由沿面电弧和空气间隙电弧2部分组成;提出染污绝缘子串直流放电过程的电路模型由剩余污层电阻、沿面电弧和空气间隙电弧串联组成;根据模型推导得到染污绝缘子串直流污闪电压的污秽影响特征指数在0.22~0.34之间,并从理论上解释了不同型式绝缘子污秽影响特征指数存在差异的原因。
引用
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