获取全寿命故障规律进行电子产品故障预测的方法

被引：6

作者：

李刚 ^{[1
]}

蔡金燕 ^{[1
]}

梁四洋 ^{[2
]}

机构：

[1] 军械工程学院雷达工程教研室

[2] 军械工程学院科研部

来源：

电子测量与仪器学报 | 2008年 / 01期

关键词：

电子产品; 全寿命; 故障预测;

D O I：

10.13382/j.jemi.2008.01.007

中图分类号：

TN06 [测试技术及设备];

学科分类号：

080901 ;

摘要：

为了解决传统电子产品故障预测方法难以实现和精度差的问题,本文提出利用电子产品全寿命故障规律进行故障预测的方法。它利用加速试验手段,获取电子产品在加速应力下的全寿命故障规律,然后推导出正常应力下的全寿命故障规律并用于故障预测。最后,本文以某型雷达磁控管为对象进行了实例分析,验证了此方法的故障预测结果相对于传统预测方法更加精确。

引用

页码：34 / 37+47 +47

页数：5