INTERFACE STATES IN SI-SIO2 INTERFACES

被引：216

作者：

DEULING, H

KLAUSMANN, E

GOETZBERGER, A

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(72)90157-8

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：559 / +

页数：1

共 26 条

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FAHRNER W, TO BE PUBLISHED