INTERFEROMETRIC DISPLACEMENT MEASUREMENT ON SCATTERING SURFACES UTILIZING SPECKLE EFFECT

被引：386

作者：

LEENDERTZ, JA

机构：

来源：

JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS | 1970年 / 3卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1088/0022-3735/3/3/312

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

页码：214 / +

页数：1

共 5 条

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